手持數(shù)顯折射儀  型號：TC-WS-45S 

 計用來測量與糖有關的溶液（如水果汁、軟飲料、酒等）， 確定食物、飲料的糖含量以及水果的熟期，控制過程溶液的濃度，也可用來控制各種工業(yè)溶液的濃度（如切割液和磨削液）。帶有自動溫度補償系統(tǒng)。

手持數(shù)顯折射儀

產(chǎn)品名稱：緣耐壓測試儀/緣耐壓檢測儀 產(chǎn)品型號：H-9681

緣耐壓測試儀/緣耐壓檢測儀型號：H-9681

簡介：5kV/12mA交流耐壓，耐壓、緣測試自動切換，無觸點升壓，LCD液晶顯示，帶有遙控接口，可選配通訊接口和示波器接口以及開關量輸出功能    
功能特點   
1、交流耐壓、緣測試自動切換，聯(lián)合或單獨測試    

2、符合《GB4706》《IEC60335》家用和類似用途電器的安規(guī)測試要求   

3、無觸點升壓，50/60Hz雙頻輸出，滿足國內(nèi)、出口產(chǎn)品的測試要求   

4、LPA（線形）技術，輸出波形純凈，綠色環(huán)保   

5、可選配設置上下限報警功能，放置因被測物開路引起的漏檢。   

6、可選配計算機軟件，便于數(shù)據(jù)存儲、分析、打印、查詢等操作   

7、 采用無觸點輸出，*杜了打火和拉弧現(xiàn)象  
技術指標  
耐電壓測試  
測試電壓范圍AC：0-5KV分辨率10V  
測試電壓精度±（2%設定值+5V）  
輸出電壓頻率50HZ/60HZ  
測試時間0.5-999.9秒，“0.0”=連續(xù)測試  
擊穿電流測試范圍AC:0.10-12.00mA  
擊穿電流測試精度±（2%設定值+2個字）  
合格/不合格分析合 格：綠燈點亮；  
不合格：聲光報警，并顯示擊穿時的電壓、電流值  
緣電阻測試  
測試電壓DC：100-1000V  
測試電壓精度±（2%設定值+5V）  
緣電阻范圍1-1000MΩ  
緣電阻精度電壓>500V： ±（3%讀數(shù)值+2個字）  
電壓<500V：  ±（7%讀數(shù)值+2個字）  
緣電阻測試時間0.5-999.9秒，0.0秒連續(xù)輸出  
測試結(jié)果表達方式蜂鳴器，LCD（液晶）顯示  
遙控接口9針接口（可進行遠程控制）  
自動保護功能  在非正常工作狀態(tài)，內(nèi)部保護電路自動切斷輸出電壓，保證儀器及人身安全   
報警功能當實測值大于或小于預置值時或非正常工作狀態(tài)時，均可發(fā)出聲光報警  
工作電源AC:220V±10%,50HZ±5%  

　　產(chǎn)品附件  
電源線(5A)×1  
測試棒×1  
測試夾×1  
回路線×1

產(chǎn)品名稱：晶閘管綜合測試儀 產(chǎn)品型號：DBC-021/031

 晶閘管綜合測試儀型號：DBC-021/031

可控硅的伏安特性和觸發(fā)特性是晶閘管的基本特性，這些特性的好壞，直接影響到器件在整機上的正常使用。因此，檢測晶閘管的伏安特性和觸發(fā)特性在晶閘管器件的生產(chǎn)、經(jīng)銷及使用過程中都是十分重要的。測試以上參數(shù)通常由晶閘管伏安特性測試儀和晶閘管門觸發(fā)特性測試儀完成，測試伏安特性參數(shù)時還需另配一臺示波器觀看伏安特性曲線，以上三臺儀器常規(guī)價在7000—10000元以上，且臺數(shù)多、占地大、操作不方便。我們根據(jù)廣大用戶的需求，現(xiàn)研制出將以上三臺儀器作在一起的晶閘管伏安特性、觸發(fā)特性綜合測試儀，深受廣大用戶好評。 
    該測試儀測試方法符合國標GB4024-83的規(guī)定，采用單片機控制，自動測試、數(shù)字顯示。線路設計簡捷精練，機內(nèi)示波器可直接觀看伏安特性曲線。具有體積小、重量輕、操作簡單、測試準確、保護可靠、維修方便、價格低廉等特點，能測試各種晶閘管及晶閘管模塊的正反向不重復峰值電壓、反向重復峰值電壓、正反向重復峰值漏電流及門觸發(fā)電流與觸發(fā)電壓。是晶閘管器件生產(chǎn)廠、器件經(jīng)銷商及整機廠檢測晶閘管多項參數(shù)的綜合性測試設備。 
    晶閘管在使用過程中，由于受到過流、過壓、過熱等諸多因素的影響，其伏安特性和觸發(fā)特性將會逐漸變差，甚至不能維持正常使用或*損壞，因此在進行整機維修時，對已用過的元件和要新上機的元件進行檢測確認性能良好后再上機，對盡快排除設備故障少走彎路很有好處。

機內(nèi)自備有示波器供觀看伏安特性曲線  
單片機控制，測試參數(shù)數(shù)字顯示  
峰值電壓測試范圍: 0-3000V  
峰值漏電流測試范圍: 0-100mA  
觸發(fā)電壓測試范圍: 0-5V  
觸發(fā)電流測試范圍: 5-450mA 
DBC-021、031 可控硅綜合特性測試儀簡介